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方阻測(cè)量時(shí)探頭的關(guān)系
更新時(shí)間:2018-01-12 點(diǎn)擊次數(shù):2740

方阻測(cè)量時(shí)探頭的關(guān)系

方阻也稱為方塊電阻,指一個(gè)正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊間的電阻作為描述。

涂層類,鍍膜類產(chǎn)品基本上都是通過測(cè)量方阻的形式來衡量樣品的厚度。

方塊電阻有一個(gè)特性,即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的

影響方阻的因素主要有以下幾個(gè)方面:

探針與邊緣的距離;

探針之間的等距離

一般測(cè)量方阻的儀器有手持式和臺(tái)式兩種,這也是目前市場(chǎng)上比較常見的,

手持式的FT-392手持式四探針測(cè)試儀;臺(tái)式的FT-331四探針方阻測(cè)試儀;

手持式的精度一般都比臺(tái)式的低些,臺(tái)式的量程寬些,當(dāng)然,精度也高很多。

方阻儀測(cè)量特別注意對(duì)探頭的保護(hù),探針的保護(hù)是非常重要的,我們很多使用者,從出現(xiàn)探針被弄壞,探針丟失,探針沒有彈性,以及探針形變等,這些都是由于保管不到位造成的,正常情況下,一付探針的使用壽命可以達(dá)到3年左右,比較頻繁的使用條件下。

方阻測(cè)試對(duì)環(huán)境要求也是比較高的,建議在相當(dāng)恒定的環(huán)境下測(cè)量,減少溫度,濕度偏差及其他不確定性操作的數(shù)據(jù)偏差,

同時(shí)建議在測(cè)試中,采用PC軟件來做分析,這樣可以觀察過程數(shù)據(jù)變化及數(shù)據(jù)的保存等,都是不錯(cuò)的選擇。

 

      
  
   
 
 
 

 

 

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