日韩一区二区视频在线观看,日日摸夜夜爽无码毛片精选,日本免码va在线看免费最,日韩精品视频免费看

當前位置:主頁 > 技術文章 > 方阻測試儀可以測試不同材料的方塊電阻
方阻測試儀可以測試不同材料的方塊電阻
更新時間:2021-07-16 點擊次數:3399
方阻測試儀是用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。
 
FT-340系列方阻測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。
 
影響探頭法測試方阻精度的因素有:
 
(1)要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距,一般要求10倍以上。
(2)要求探針頭之間的距離相等,否則就要產生等比例測試誤差。
(3)理論上講探針頭與導電薄膜接觸的點越小越好。但實際應用時,因針狀電極容易破壞被測試的導電薄膜材料,所以一般采用圓形探針頭。

版權所有 © 2019 寧波瑞柯微智能科技有限公司 浙ICP備2022000105號-3 技術支持:化工儀器網 管理登陸 GoogleSitemap

在線客服 聯系方式 二維碼

服務熱線

0574-27976124

掃一掃,關注我們

浙公網安備 33020502001079

主站蜘蛛池模板: 铜川市| 阿克陶县| 宜君县| 高尔夫| 凤阳县| 朝阳市| 宝丰县| 巨鹿县| 本溪| 武山县| 垫江县| 南昌县| 江阴市| 大田县| 英吉沙县| 孟州市| 呈贡县| 壶关县| 马山县| 吴堡县| 汤阴县| 沂南县| 资源县| 安吉县| 台湾省| 石城县| 新巴尔虎右旗| 志丹县| 怀集县| 香格里拉县| 东源县| 榆树市| 大港区| 湄潭县| 灵石县| 稻城县| 中西区| 革吉县| 长子县| 青阳县| 瓮安县|