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方阻測試儀可以測試不同材料的方塊電阻
更新時間:2021-07-16 點擊次數:3399
方阻測試儀是用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。
 
FT-340系列方阻測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。
 
影響探頭法測試方阻精度的因素有:
 
(1)要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距,一般要求10倍以上。
(2)要求探針頭之間的距離相等,否則就要產生等比例測試誤差。
(3)理論上講探針頭與導電薄膜接觸的點越小越好。但實際應用時,因針狀電極容易破壞被測試的導電薄膜材料,所以一般采用圓形探針頭。

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